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SEM测试_扫描电镜测试_服务

扫描电镜原理

扫描电镜由电子枪发射出来的电子束,在加速电压的作用下,经过磁透镜系统汇聚,形成直径为5nm,经过二至三个电磁透镜所组成的电子光学系统,电子束会聚成一个细的电子束聚焦在样品表面。在末级透镜上边装有扫描线圈,在它的作用下使电子束在样品表面扫描。由于高能电子束与样品物质的交互作用,结果产生了各种信息:二次电子、背反射电子、吸收电子、X射线、俄歇电子、阴极发光和透射电子等。这些信号被相应的接收器接收,经放大后送到显像管的栅极上,调制显像管的亮度。由于经过扫描线圈上的电流是与显像管相应的亮度一一对应,也就是说,电子束打到样品上一点时,在显像管荧光屏上就出现一个亮点。扫描电镜就是这样采用逐点成像的方法,把样品表面不同的特征,按顺序,成比例地转换为视频信号,完成一帧图像,从而使我们在荧光屏上观察到样品表面的各种特征图像。

 

在材料领域中,扫描电镜技术发挥着极其重要的作用,被广泛应用于各种材料的形态结构、界面状况、损伤机制及材料性能预测等方面的研究。利用扫描电镜可以直接研究晶体缺陷及其产生过程,可以观察金属材料内部原子的集结方式和它们的真实边界,也可以观察在不同条件下边界移动的方式,还可以检查晶体在表面机械加工中引起的损伤和辐射损伤等。

 

扫描电镜测试应用产品:

高能电子束轰击样品表面,激发各种信号。可以对陶瓷、金属、粉末、塑料等样品进行形貌观察及成分分析。如:

-形貌观察(SEM)

-微观尺寸测量

-成份分析(EDS)

-锡须观察

-IMC观察等

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仪器技术参数

分辨率: 30 kV3.0 nm(高真空模式), 背散射电子分辨率30 kV4.0 nm(高真空模式). 放大倍率: ×5 - ×300,000. 加速电压0.3 - 30 Kv.

 

应用领域

材料,粉体,矿物粒径大小,表面断面形貌分析, 填料分散状态复合材料结构, 材料晶型分析晶粒大小,材料物相分析。元素定性分析。

 

送样要求

粉状样品1-5g之间,能把3-5mm直接样品填满即可。块状样品不能大于5mm宽,高度小于5mm.

 

适用标准

GB/T 16594-2008微米级长度的扫描电镜测量方法通则

GB/T 17362-2008 黄金制品的扫描电镜X射线能谱分析方法

 

专业、高效、精准、高性价比是剂拓公司的服务宗旨。




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